品牌 | J-RAS | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,建材,電子,汽車,電氣 |
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置
絕緣抵抗測定器
型號:ECM-100
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓(BIAS VOLTAGE),經(jīng)過長時(shí)間的測試(1~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生(ION MIGRATION),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。(ION MIGRATION TESTING) 適用規(guī)格:JPCA-ET01-2001
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置
特點(diǎn):
①簡單便利
由于采用了高側(cè)計(jì)測,削減了對樣品的焊接工時(shí)。
通過簡單操作的軟件,可以進(jìn)行直觀的操作。
在記錄和報(bào)告過程中配備了方便的報(bào)告功能。
試驗(yàn)中測試儀可以單獨(dú)工作,可以切斷電腦的電源。
②高機(jī)能
通過對每個(gè)頻道單獨(dú)配備的外加測量電路,實(shí)現(xiàn)16ms的測量間隔。
泄漏接觸現(xiàn)象的檢測能力高,可靠性試驗(yàn)的“質(zhì)量"提高。
一臺電腦可增設(shè)多達(dá)400個(gè)通道
每個(gè)通道有不同的測試電壓。
③高信賴性
通過自我診斷功能防止異常測量。
易于拆卸的單元結(jié)構(gòu),易于維護(hù)。
用途
印刷電路板、焊錫、樹脂、導(dǎo)電性粘合劑、絕緣材料等的電化學(xué)遷移(離子遷移)評價(jià)。